头颅侧位片正畸测量是一种通过X线头颅侧位片对颌面部骨骼、牙齿及软组织进行定量分析的方法，主要用于正畸治疗前的诊断、方案设计及疗效评估。其核心是通过测量标志点的角度、距离等参数，评估颅颌面结构的发育状态和异常情况。
1、骨骼结构分析
通过测量SNA角（上颌骨与颅底关系）、SNB角（下颌骨与颅底关系）、ANB角（上下颌骨相对位置）等指标，判断上下颌骨的前后向发育是否协调。例如ANB角大于正常值（2°-4°）可能提示上颌前突或下颌后缩，为骨性错颌畸形的诊断提供依据。
2、牙齿位置评估
测量上中切牙与颅底平面的夹角（UI-SN）、下中切牙与下颌平面的夹角（LI-MP）等，评估牙齿倾斜度是否正常。例如UI-SN角过大可能提示上前牙唇倾，需通过正畸调整牙轴角度。
3、软组织侧貌分析
通过鼻唇角、颏唇沟深度、上下唇突度等参数，评估面部美观性。例如颏部发育不足可能导致颏唇沟变浅，影响侧貌轮廓，需结合正畸或正颌治疗改善。
该测量需由正畸医师在专业软件辅助下完成，通常包括拍摄标准化头颅侧位片、标记解剖标志点、计算参数及生成分析报告等步骤。建议患者选择正规医疗机构进行检查，医生将结合临床检查、模型分析等综合数据制定个性化治疗方案。测量结果可能受投照角度、患者体位等因素影响，需由经验丰富的医师进行校准和解读。