什么是糖耐量受损？

糖耐量受损（ImpairedGlucoseTolerance,IGT）是指在进行口服葡萄糖耐量试验（OGTT）时，血糖水平介于正常血糖和糖尿病诊断标准之间的一种状态。具体来说，是指在OGTT中，空腹血糖水平正常（小于或等于5.56mmol/L），但在服糖后2小时血糖水平介于7.8mmol/L至11.0mmol/L之间。糖耐量受损是糖尿病前期的一种表现，提示患者有发展为糖尿病的风险，需要通过生活方式干预和定期监测来预防糖尿病的发生。